我公司自主研发的显微膜厚测量仪进入主流半导体Fab并通过验证, 可测量20nm-...

作者：　来源：　日期：2017/5/8　人气：3163

我公司自主研发的显微膜厚测量仪进入主流半导体Fab并通过验证, 可测量20nm-100um膜厚,光斑大小20um

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